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    產品詳細頁

    介質損耗測試儀

    簡要描述:介質損耗測試儀是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。

    • 產品型號:HD-JD1
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2025-06-18
    • 訪  問  量:738

    產品介紹

    介質損耗測試儀

    介質損耗測試儀是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。


    介質損耗測試儀的參考標準
    GB/T 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法;
    GB/T 1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;
    ASTM-D150-介電常數測試方法;
    GB9622.9-88/SJT 11043-1996電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法。

    介質損耗測試儀

    主要功能
    介質損耗因數(tanδ)測量:精確測量絕緣材料的介質損耗因數,評估絕緣性能。
    電容量(Cx)測量:測量絕緣材料的電容量,判斷其電容特性。
    抗干擾能力強:采用變頻技術或數字信號處理技術,有效抑制工頻干擾和其他電磁干擾,確保測量結果的準確性。
    多種測試模式:支持正接法、反接法、自激法等多種測試模式,適用于不同類型的被試品。
    數據存儲與分析:內置存儲功能,可保存測試數據,支持數據導出和分析。
    安全保護功能:具備過壓、過流、短路等保護功能,確保操作安全。

    技術特點
    高精度測量:采用高精度測量電路和算法,確保tanδ和Cx的測量精度。
    寬測量范圍:適用于不同電壓等級和電容量的被試品。
    便攜式設計:體積小、重量輕,便于現場測試。
    操作簡便:大屏幕液晶顯示,中文菜單操作,界面友好。
    自動化程度高:一鍵式操作,自動完成測量、計算和結果顯示。

    介質損耗測試儀

    技術參數

    1信號源DDS數字合成 10KHZ-70MHz
    2采樣精度11BIT
    3測量范圍1-1000自動/手動量程
    4分辨率0.1
    5測量工作誤差<5%
    6電感測量范圍分辨率0.1nH
    7電感測量誤差<3%
    8調諧電容主電容30-540pF
    9電容直接測量范圍1pF~2.5uF
    10調諧電容誤差±1 pF或<1% 0.1pF
    11諧振點搜索自動掃描
    12合格預置范圍5-1000聲光提示
    13LCD顯示參數F,L,C,Q,Lt,Ct等
    14介質損耗系數精度萬分之一
    15介電常數精度千分之一
    16材料測試厚度0.1mm-10mm
    17技術儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數顯微測量裝置,直接讀值。


    介質損耗測試儀


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